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300mm半导体芯片加工中的超纯水系统

日 期: 10-07-15 09:30:40       所属栏目: 恩临树脂       来 源:        人 气: 

顶级超纯水系统的主要性能

 

从对深亚微米器件性能影响的敏感性和制水技术的难度考察, TOC (总有机炭) /DO (溶解氧)两参数集中体现了现今超纯水技术的水平。 TOC 引起薄栅氧化中缺陷密度增加, DO 由于硅片表面自然氧化膜而使器件特性恶化。各项水质参数按难易依次排列和现今水平列于表 1

顶级超纯水系统的水质参数

 

项目

单位

数值(不大于)

在线检测极限

C 工程设计值

TOC

ppb 

1

0.01 

1

DO 

ppb 

0.01

2

SiO2

ppb 

 0.1 

0.01

 

微粒

/ml 

1(≥0.05μm)  

  同上  

1(≥0.05μm)

C/  

ppb 

0.1

 

 

重金属

ppb 

0.01 

0.01

 

Na+ 

ppb 

0.001

0.001

 

电阻率

MΩ-cm(25 )

≥18. 2

0.01 

≥18.2

活菌

cfu/ 

1  

0.1  

1

 

在线的 DO TOC SiO2 Na 离子检测仪均是全自动自校准的; ICP-MS (电荷感应耦合 等离子质谱)对超纯水中三十种金属离子的检测极限可达 1.3(0.03ppt 内。我国按 0.25μm 要求的系统 C 的设计值附于表

9 7 3 1 2 4 8 :

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